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Curso avanzado de microscopía correlativa en IHEM

Este curso avanzado, proyectado para el mes de marzo, tiene como objetivo proporcionar conocimientos sobre las técnicas de super-resolución: STED, STORM, SIM, con especial atención a CLEM.

El curso se realizará del 14 al 19 de marzo, e incluirá conceptos teóricos y sesiones prácticas con una evaluación final. Se halla orientado a profesionales, estudiantes de posgrado y becarios, en especial post-doctorales.

Se llevará adelante como curso-taller ya que constará de módulos teóricos combinados con actividades prácticas, con el objetivo de proporcionar los conocimientos básicos necesarios para una adecuada utilización de las técnicas de microscopía, con especial énfasis en la formación necesaria para la correcta preparación de muestras a ser observadas en microscopia confocal y electrónica.
La carga horaria ha sido estimada en 44 hs. (teórico-práctico).


Docentes a cargo

  • Adur, Javier (LAMAE-CONICET. Argentina)
  • Barrantes, Francisco (UCA-CONICET. Argentina)
  • Cáceres, Alfredo (INIMEC-CONICET.UNC. Argentina)
  • Lafont, Frank (Institut Pasteur. Francia)
  • López Carrascosa, José (CNB-CSIC. España)
  • Pepperkok, Rainer (EMBL. Alemania)
  • Stefani, Fernando (CIBION-CONICET. Argentina)
  • Aguilera, Milton Osmar (IHEM-CONICET. Argentina)
  • Colombo, María Isabel (IHEM-CONICET. Argentina)
  • Delgui, Laura (IHEM-CONICET. Argentina)
  • Fader, Claudio (IHEM-CONICET. Argentina)
  • Ibáñez, Jorge (IHEM-CONICET. Argentina)

Puede encontrar más información y el Programa Preliminar, en el siguiente enlace.

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